發布時間：2022年08月17日                  作者：德國GMC-I高美測儀（上海電勵士）

I-V曲線測試儀下的IV曲線評估

1、階梯或凹陷

2、低電流

3、低電壓

4、圓膝

5、豎直腿淺坡

6、水平腿陡坡

I-V曲線測試儀下的IV曲線評估-階梯或凹陷

I-V 曲線中的階梯或凹陷表示被測試的陣列或組件的不同區域之間的不匹配情況，可能會有如下情況引起：

☆ 陣列或組件局部遮擋。

☆ 陣列或組件局部污漬或以其他方式遮蔽（比如雪等）

☆ PV電池片/組件損壞。

☆ 旁路二極管短路。

注意：即使組件中只有一個單元被部分遮蔽也可能會導致相關的旁路二極管導通，并在曲線中產生一個凹陷。

IV曲線測試儀下的IV曲線評估-低電流：

許多因素可以導致總結如下

陣列原因：

☆ 均勻污染

☆ 條紋遮擋（縱向組件）

☆ 污垢壩（縱向組件）

☆ 光伏組件劣化

組件原因：

☆ PV組件數據輸入錯誤

☆ 錯誤地輸入多個并聯串

測量原因：

☆ 輻照傳感器校準或測量問題。

☆ 輻射傳感器未安裝在陣列的平面中。

☆ I-V曲線測量時輻照度改變。

☆ 反射效應導致輻照傳感器記錄偏高的輻照度。

☆ 輻照太低或太陽太接近地平線。

IV曲線測試儀下的IV曲線評估-低電壓

電壓變化的潛在原因包括以下

陣列原因：

☆ 旁路二極管導通或短路。

☆ 光伏串的組件數量錯誤。

☆ 電勢誘導衰減（PID）。

☆ 對整個電池片/組件/組串有明顯的

☆ 均勻的遮擋。

組件原因：

☆ 錯誤地輸入PV組件數據。

☆ 錯誤輸入串中的組件數目。

測量原因：

☆ PV電池溫度與測量值不同。

IV曲線測試儀下的IV曲線評估-圓膝

☆ I-V 曲線的膝蓋的倒圓可能是老化過程的表現。在得出結論之前，檢查I-V曲線的水平和垂直腿的斜率。如果它們已經改變，則會在膝蓋的形狀中產生視覺上類似的效果。

IV曲線測試儀下的IV曲線評估-豎直腿中的淺坡

Z大功率點（V mpp）和V oc之間的I-V曲線的后一部分的斜率受到對被測電路的串聯電阻的影響。增加的電阻將減小曲線的該部分中的斜率的陡度。

串聯電阻增加的潛在原因包括：

☆ 光伏配線損壞或故障（或電纜尺寸不足）。

☆ 組件或陣列互連處故障（連接不良）。

☆ 組件自身串聯電阻增加（電池片連接導致高阻或接線盒老化腐蝕）

IV曲線測試儀下的IV曲線評估-水平腿的陡坡

I-V曲線上部的斜率變化可能是由于：

☆ PV電池中的旁路電流分流。

☆ 組件I sc不匹配。

☆ 錐形陰影或污垢（例如污垢壩）